产品详情
简单介绍：
半导体硅片检查用显微镜MX51
规格: 放大倍数：50×、100×、200×、500×、1000X;
物镜种类：平场半复消色差物镜，萤石材料；
观察方法：明场、暗场、偏振光；
详情介绍：
半导体硅片检查用显微镜MX51
规格: 放大倍数：50×、100×、200×、500×、1000X;
物镜种类：平场半复消色差物镜，萤石材料；
观察方法：明场、暗场、偏振光；
